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晶圆磨削砂轮

适用于半导体晶圆减薄、CMP 后磨削、碳化硅与氮化镓精密研磨

嘉宝晶圆砂轮专为半导体晶圆减薄与精密背磨工艺开发,适配硅、碳化硅、氮化镓等硬脆材料。可稳定控制晶圆厚度、总厚度偏差 TTV 以及表面粗糙度,减少划伤、崩边、边缘破损,实现高产出、低损伤的精密磨削。

产品定位

随着 3C 电子产品小型化、SiP 先进封装普及,100μm 以下超薄晶圆减薄、背面精磨、CMP 后研磨已成为半导体核心工艺。嘉宝晶圆砂轮针对硅、碳化硅、氮化镓硬脆晶圆开发,兼容迪斯科、冈本、爱德科等主流磨片机。为功率器件、射频芯片、MEMS 器件提供厚度可控、损伤层极低、一致性优异的量产磨削方案。

产品核心优势
  • 精准厚度与 TTV 控制
    磨料分布均匀,连续磨削状态下去除率波动极小,稳定保障晶圆厚度均一性,降低后段抛光、蚀刻工序的加工压力。
  • 低划伤、抑制崩边
    经过优化的专用树脂 / 陶瓷结合剂配方,牢牢把持磨粒,不易发生大规模掉砂,大幅减少晶圆表面划伤与边缘破损,提升成品良率。
  • 适配各类半导体硬脆材料
    兼容硅、碳化硅、氮化镓晶圆,兼顾粗磨高去除效率与精磨镜面效果,非常适合高端新能源功率器件、射频高频芯片。
  • 量产性能稳定
    长时间连续作业磨削负载波动平缓,砂轮修整频次低,适用于工厂 7×24 小时产线,提升设备日产能。
  • 多段工艺匹配
    Z1 粗磨、Z2 精磨两大粒度系列,覆盖大余量粗磨、镜面精加工、超精细抛光;客户可依据目标粗糙度 Ra 选择对应规格。
适用磨削工序
  • 硅晶圆背面减薄磨削
  • 碳化硅 / 氮化镓功率晶圆粗磨与镜面精磨
  • CMP 后精密研磨工序
  • MEMS 与射频芯片超薄晶圆加工
  • SiP 先进封装晶圆减薄
标准规格参数
磨料种类 粒度范围 硬度等级 浓度 结合剂类型 标准型面
SD / SDC #320 ~ #15000 N 50 / 75 / 100 / 125 B / V / M 2A2S / 2A7S

常用晶圆尺寸:8 英寸 (203mm)、10 英寸 (250mm)、12 英寸 (300/303mm)
适配设备:迪斯科、冈本、爱德科晶圆磨片机

客户实测案例
分类 项目 原厂砂轮 嘉宝晶圆砂轮
基础条件 砂轮规格 — 300D × 4W × 5X
加工工件 12 英寸硅晶圆 12 英寸硅晶圆
机床型号 Disco DAG810 Disco DAG810
工艺参数 主轴转速 2400 / 240 rpm 2400 / 240 rpm
进给速度 3.0 / 2.5 / 1.0 μm/s 3.0 / 2.5 / 1.0 μm/s
测试结果 磨削负载 14.6 A 14.7 A(相当)
平均粗糙度 Ra 0.22 0.18(更优)
磨耗比 (工件 / 砂轮) — 200
表面划伤 可见细微划痕 无可见细微划痕
表面品质 标准 显著更优

测试结论: 同等工艺参数条件下,嘉宝砂轮磨削负载与原厂相当,粗糙度 Ra 更低、磨耗比更高、表面无划痕,综合磨削性能更优异。

定制服务说明

可定制外径、厚度、内孔、粒度、磨料浓度以及特殊砂轮外形。针对特殊材料超薄晶圆、高粗糙度指标、小众进口磨片机,可提供试样磨削测试,提供专属工艺方案与报价。

工艺选型提示
Z1 粗磨粒度(#320‑#6000)侧重大余量快速去除,降低边缘损伤;Z2 精磨粒度(#8000‑#15000‑S)实现镜面效果,抑制晶圆翘曲,减小亚表面损伤层。建议根据晶圆磨削余量、目标 Ra、设备负载阈值,搭配粗磨 + 精磨砂轮组使用。